- English
- Español
- Português
- русский
- Français
- 日本語
- Deutsch
- tiếng Việt
- Italiano
- Nederlands
- ภาษาไทย
- Polski
- 한국어
- Svenska
- magyar
- Malay
- বাংলা ভাষার
- Dansk
- Suomi
- हिन्दी
- Pilipino
- Türkçe
- Gaeilge
- العربية
- Indonesia
- Norsk
- تمل
- český
- ελληνικά
- український
- Javanese
- فارسی
- தமிழ்
- తెలుగు
- नेपाली
- Burmese
- български
- ລາວ
- Latine
- Қазақша
- Euskal
- Azərbaycan
- Slovenský jazyk
- Македонски
- Lietuvos
- Eesti Keel
- Română
- Slovenski
- मराठी
- Srpski језик
Industria News
Pii Carbide Substrate Core Processu Flow
Pii carbide subiecta est semiconductor mixtus, una materia crystallina ex duobus elementis composita, carbonis et pii. Notas habet magnae bandgap, altae conductivity scelerisque, magnae vires agri naufragii critici, et altae electronicae satietatem egisse rate.
Lege plus
Partes Criticae de Sic Substrates et Crystal Incrementum in Semiconductor Industry
In carbide silicon (SiC) catena industriae, substratae commeatus significantes pressiones tenent, praesertim propter valorem distributionis. SiC rationem subiectae 47% totius valoris, deinde stratis epitaxialibus ad 23%, cum fabrica consiliorum et fabricationum reliquas 30% constituunt. Haec inversa......
Lege plus
Applicationem Sic et GaN in vehiculis electrica
SiC MOSFETs transistores sunt qui densitatem vim altam, efficientiam emendatam, et graves defectus rates ad altas temperaturas praebent. Haec commoda SiC MOSFETs multa beneficia ad vehiculis electricis (EVs) afferunt, inclusa longius eiectamenta, citius incurrentes, et potentia inferiores sumptus ve......
Lege plus
Semiconductores Gallium Oxide/β-Ga2O3
Prima materiarum semiconductoris generatio maxime repraesentatur per silicon (Si) et germanium (Ge), quod annis 1950 oriri coepit. Germanium primis diebus dominabatur et praecipue usus erat transistores et photodetectors in humili intentione, humili frequentia, media potentia, sed propter inopum cal......
Lege plus
Defectus-Free Epitaxial Augmentum et Misfit Luxationes
Vitium liberorum incrementi epitaxialis fit cum unum cancelli crystalli fere identicum cancellos in altero constantes habet. Augmentum accidit cum cancellorum situs duarum cancellorum in regione interfacili proxime congruunt, quod fieri potest cum parvo cancellato mismatch (minus quam 0.1%). Haec ad......
Lege plus
